Elektron mikroskopni skanerlashga kirish
Skanerlash elektron mikroskopi (skanerlash elektron mikroskopi, SEM) - bu yuqori aniqlikdagi mikro-topografiya tahlillari uchun ishlatiladigan keng ko'lamli aniqlikdagi asbob. U katta maydon chuqurligi, yuqori aniqlik, intuitiv tasvirlash, kuchli uch o'lchovli tuyg'u, keng kattalashtirish xususiyatlariga ega va sinovdan o'tkaziladigan namunani uch o'lchovli kosmosda aylantirish va burish mumkin.